產(chǎn)品綜述：

數(shù)字集成電路測試功能模塊（ABI-6400）

在BM-8400中提供了1個數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有64個量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試（在線/離線測試）,集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.

數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊（ABI-6500）

該模塊是ABI-6400模塊的升級產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.ATM模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷.
 

模擬集成電路測試功能模塊（ABI-2400/2500）
 

在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測試.所有常見的模擬集成電路皆可以測試,系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.

綜合型基礎(chǔ)儀表模塊（ABI-6300）
 

在ABI-6300儀表模塊中,提供了多種高規(guī)格的測試及量測用的儀表功能在同一模塊之中.此種設(shè)計方式,適合用于教育及一般用途的電子量測使用.其模塊提供了頻率/事件計數(shù)器,數(shù)字存儲式示波器,信號產(chǎn)生器,雙信道的數(shù)字電表,固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能,來設(shè)計客制化的儀器操作接口.
 

數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊（ABI-1100）
 

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時具有過電壓及過載保護(hù)功能.
 

主要功能

Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能

具64個量測通道 （64通道X1組模塊）.八組輸出隔離信號.一組5V /5A的電源輸出.可進(jìn)行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測.內(nèi)建邏輯時序信號測量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.

Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能

具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對模擬集成電路進(jìn)行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動定位集成電路接腳及電路狀比對功能.

Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能

具128量測通道（64通道X2個模塊）.可調(diào)整測量信號電壓范圍.針對數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測量結(jié)果.

Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能

具有24量測通道及外加二組獨(dú)立測量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號輸出.內(nèi)建測量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.

Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能

具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測量波形的比對功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號的差異百分比.

Graphical Test Generator 數(shù)字時序編輯功能

具有64個信號通道可供編輯數(shù)字時序信號,每個通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號、并且儲存之后再進(jìn)行比對.

Floating Digital Multimeter雙通道萬用電表功能

具二組自動換文件的測量通道,可測量DC及AC電壓信號達(dá)400V,可測量DC及AC電流信號可達(dá)2A.阻抗測量可達(dá)20M歐姆,各信道具有統(tǒng)計功能,可顯示zui大值、zui小值及平均值.另外提供一組計算器,可針對所測量到的數(shù)值進(jìn)行實(shí)時的計算并記錄.

Universal I/O 通用型輸出/輸入通道功能

具有四組模擬信號通道及四組數(shù)字信號通道.模擬信號通道可設(shè)定成為電壓輸出、電壓量測、電流輸出及電流測量四種工作模式.其電壓范圍為-9V to +9V,而電流范圍可達(dá)20mA.數(shù)字信號通道可設(shè)定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測目前通道的信號邏輯狀態(tài),其輸出及輸入能力是以TTL位準(zhǔn)為標(biāo)準(zhǔn).

Short Locator 短路電阻測量功能

具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.

Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能

具三組固定式的電源輸出,分別為:5V/0.5A輸出,+9V/ 100mA輸出及-9V/100mA輸出.各信道都具有電流值監(jiān)測功能.

Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能

邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.

模塊介紹

英國ABI-6400/ABI-6500數(shù)字集成電路測試模塊（ABI-6400和ABI-6500任選其一）

英國ABI-6400數(shù)字集成電路測試模塊

英國ABI-6500數(shù)字集成電路測試模塊

主要功能:

64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
64通道V-I曲線模擬通道測試（可測模擬器件）
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試（低電阻測試）
實(shí)時顯示輸出邏輯電平值
存儲器功能測試
數(shù)字時序編輯功能
未知器件型號查詢
程控電源供電

測試準(zhǔn)確-源自*的測試技術(shù)

同一器件同一時間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.
整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時序圖形顯示,具體時序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線測試功能:可針對元器件直接進(jìn)行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號,正負(fù)電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達(dá)幾十種.
V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測定,可以觀測曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障.方便找出不穩(wěn)定器件.
系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充,直至256通道.6500可以擴(kuò)充到2048路.

產(chǎn)品特征:

中英文測試軟件,USB接口.
數(shù)字測試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
模擬測試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴(kuò)充測試庫配有離線測試盒,快速測試批量元器件.離線測試和在線測試功能**.
IC型號識別:標(biāo)識不清或被擦除型號的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號識別測試.
讀寫存儲器功能測試5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。
數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。

數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格：

電源供給規(guī)格參數(shù)：

英國ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:

英國ABI-2400/ABI-2500模擬集成電路測試模塊

特點(diǎn):

含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個獨(dú)立測試通道
驅(qū)動輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動計算出放大率（Av）
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.

特點(diǎn):

適合模擬及數(shù)字集成電路的測試.
可進(jìn)行在線或離線測試與分析.
具有24路測試通道.
安全性高的無電源測量方式.
矩陣式V-I曲線測試,可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試.
在進(jìn)行離線測試時,可針對芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動對比及儲存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測試.
具有二組信號源,可輸出直流信號,針對光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中zui多的信號頻率文件位,對于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動信號補(bǔ)償功能,可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試,以防止量測信號失真.
可由軟件來進(jìn)行維修日志的編寫.
可由軟件加入圖片,用來清楚的表示量測位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.

測試參數(shù)：

功能強(qiáng)大的2500

含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個獨(dú)立測試通道
驅(qū)動輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動計算出放大率（Av）
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.

6300多功能儀表模塊

1.數(shù)字存儲示波器

2.信號發(fā)生器

3.通用型接口通道

4.數(shù)字隔離雙通道萬用表

5.頻率計/事件計數(shù)器

6.電源輸出

1100可調(diào)電源模塊

電源輸出可由軟件控制

可調(diào)式邏輯電壓通道
可調(diào)整2.5V至6V的電壓
zui小電壓（流）調(diào)整解析:0.01V & 0.01A
可調(diào)式正電壓通道
可調(diào)整電壓:0～+24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
可調(diào)式負(fù)電壓通道
可調(diào)整電壓:0～-24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A